第 206 回土曜定例会（2004 年 4 月 3 日）
栗田、本林、菅野、Gibelin、山田、峯村

1 Exp2003 解析
　　74Ni (p,p') etc（菅野）
　　　re-evaluation of normalization
　　　　　incident beam gate: enlarged => 50% increase of "available" 74Ni
　　　　　correct counting of the beam
　　　NaI calibration 
　　　　　gain shift problem
　　26Ne (Gibelin)
　　　checks / 25Ne channel / single-coin. ratio for 25Ne / 24Ne-2n, 23Ne-3n... 
2. EXP2002 解析
　  coulex of 54Ni etc （山田）
　　　fine tuning for gamma-simulation
      beam-particle identification: improvement with F3 PL pulse height    
　　　54Ni を解析しよう