第 162 回土曜定例会（2002 年 12 月 21 日、雨）
栗田、五味、Gibelin、栂野、本林、武内、村上、長谷川、峯村、菅野、久保嶋

1. EXP2002 解析
　　23Al, 27P dissociation（五味、栂野）
　　　proton degradation / (22Mg energy = measured) => good separation of the E2 peak (23Al)
　　　=> cross section
　　　26Si stopped in 3rd layer: 30% of that in 4th layer -> analyhsis に加える
　　lifetime of 12Be isomer（出道）
　　　time-dependence of background parameters => looks regular
　　　fits with different bin-sizes (energy) => different lifetimes
　　　yield check
3. EXP2000 解析
　　1H(32Mg,32Mg*)1H（長谷川） - 30Na beam 解析も（断面積）
　　　30Na の上からの feed の最大値推定：10 counts <=> 22% の feeding
　　　　　=> beta_2 = 0.55 ;0.04/-0.03 +/0.08(st.)  c.f. 0.46 +/- 0.11

4. 実験計画、開発 (Preparation / Developments)
　　damaged detector の current 測定（菅野、久保嶋）
　　　200 deg., 1 hour => decrease of current (a factor of 3 ?)
　　DALI-II - CsI electronics（Gal、村上）
　　　回路検討：available でない素子
　　DALI-II - NaI （出道、武内、Miller、菅野...）
　　　時間分解能測定：with plastics (511 keV) -> 8 ns (FWHM)
　　　 => amp./ 電圧 / 
　　　 => 分解能測定
　　パリレンコーティング（齋藤、３年）
　　　光量は減衰した => パリレン N では？ / 別のものでプレコーティング?
　　シリコン用バイアス電源（村上、五味）
　　　修理：電流検出部を製品化？ - 需要はある？（1nA から測れる）
　　　　　　software 手直し：了 / シールド：対応中